VLF AC Kabel-Hipot-Tester
(Sehr niederfrequenter Hochspannungs-Kabel-Durchschlagsspannungsprüfer)
Dieser VLF-AC-Kabel-Hipot-Tester der XHDP-Serie verwendet digitale Frequenzumwandlungstechnologie, Ein-Chip-Mikrocomputersteuerung, Spannungsauf-, -abfall-, Mess- und Schutzfunktionen sind vollständig automatisch. Aufgrund der vollständigen Elektronik ist er klein und leicht, verwendet ein großflächiges Farb-Touch-Display, ist klar und intuitiv, einfach zu bedienen und zeigt die Ausgangswellenform an. Die Designindizes entsprechen dem nationalen Standard "Allgemeine technische Bedingungen für ultra-niederfrequente Hochspannungsgeneratoren". Die Hauptmerkmale sind wie folgt:
1. Die ultra-niederfrequente Spannung von weniger als oder gleich 60 kV verwendet eine Einzelkopplungsstruktur (ein Booster); die ultra-niederfrequente Spannung von mehr als 60 kV verwendet eine Serienstruktur (zwei Booster in Reihe), was das Gesamtgewicht erheblich reduziert und die Tragfähigkeit erhöht. Die beiden Booster können separat verwendet werden, um eine Mehrzweckmaschine zu erzielen.
2. Strom- und Spannungsdaten werden direkt von der Hochspannungsseite abgetastet, daher sind die Daten genau.
3. Intelligente umfassende Schutzfunktion: Es ist nicht erforderlich, den Strom- und Spannungsschutzwert einzustellen. Das Instrument kann den Überspannungs- und Überstromschutzwert entsprechend der Prüfkapazität und dem Prüfspannungswert berechnen und kann auch Spannungs- und Stromschwankungen schützen, sodass es die Entladungssituation erfassen kann. Die Schutzbetriebszeit beträgt weniger als 20 ms.
4. 150 kV Hochspannungsleitungsausgang, sicher und zuverlässig.
5. Aufgrund der Closed-Loop-Negativ-Feedback-Regelschleife hat der Ausgang keinen Kapazitätsanstiegseffekt.
Haupttechnische Parameter des Testers
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Spezifikation
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Nennspannung
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Tragfähigkeit
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Anwendungsbereich
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Anmerkung
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30kV (Spitze)
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Automatische Frequenzänderung: 0,1 Hz - 0,01 Hz
Lastkapazität:<= 10 µF |
Verwendet für Spannungstests von Kabeln und Motoren innerhalb von 10 kV
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Anpassbarer Touchscreen mit USB-Anschluss
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40kV (Spitze)
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Automatische Frequenzänderung: 0,1 Hz - 0,01 Hz
Lastkapazität:<= 10 µF |
Verwendet für Spannungstests von Kabeln und Motoren innerhalb von 10 kV
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50kV (Spitze)
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Automatische Frequenzänderung: 0,1 Hz - 0,01 Hz
Lastkapazität:<= 6 µF |
Verwendet für Spannungstests von Kabeln und Motoren innerhalb von 15 kV
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Anpassbarer Touchscreen mit USB-Anschluss
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60kV (Spitze)
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Automatische Frequenzänderung: 0,1 Hz - 0,01 Hz
Lastkapazität:<= 5 µF |
Verwendet für Spannungstests von Kabeln und Motoren innerhalb von 25 kV
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Kann mit einem dielektrischen Verlusttester angepasst werden
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80kV (Spitze)
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Automatische Frequenzänderung: 0,1 Hz - 0,01 Hz
Tragfähigkeit: <= 6 µF (innerhalb von 50 kV), <= 4 µF (über 50 kV) |
Verwendet für Spannungsfestigkeitstests von Kabeln und Motoren innerhalb von 35 kV
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Anpassbarer Touchscreen mit USB-Anschluss
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Ausgangsnennspannung
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30kV - 80kV
Die verschiedenen Spezifikationen sind in der obigen Tabelle aufgeführt |
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Ausgangsfrequenz
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Automatischer Konvertierungsbereich: 0,1 Hz - 0,01 Hz
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Tragfähigkeit
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Siehe obige Tabelle
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AC-Spannungsauflösung
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0,1 kV
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Spannungsgenauigkeit
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3%
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AC-Stromauflösung
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0,1 mA
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AC-Stromgenauigkeit
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3%
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Spannungs-Positiv- und Negativ-Spitzenfehler
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<= 3%
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Spannungswellenformverzerrung
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<= 3%
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Nutzungsbedingungen
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Innen und außen; Temperatur: -10 °C bis +40 °C; Luftfeuchtigkeit: <= 85 % RH
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Eingangsleistung
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Frequenz 50 Hz, Spannung 220 V ± 5 % (oder Frequenz 60 Hz, Spannung 110 V ± 5 %). Wenn der Mikrogenerator als Stromversorgung verwendet wird, muss der Frequenzumwandlungsgenerator verwendet werden, und der gewöhnliche Generator kann nicht verwendet werden, da die Geschwindigkeit des gewöhnlichen Generators instabil ist, was zu einer abnormalen Spannungsspitze führt und das Instrument beschädigt.
Hauptstruktur der ultra-niederfrequenten Hochspannungsversorgung (VLF-Hipot-Tester) Für den VLF-Hipot-Tester mit einer Nennspannung unter 50 kV wird ein Booster verwendet, der als Einzelkopplungs-Ultra-Niederfrequenz bezeichnet wird. Seine Struktur und Komponenten sind in der folgenden Abbildung beschrieben: |
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